Neben einem für die hochauflösende Oberflächenabbildung nichtleitender Objekte geeigneten Feldelektronen-Rastermikroskop stehen Lichtmikroskope mit Bildanalysensystemen zur Verfügung. (Quelle: bmb+f Forschungslandkarte Deutschland 1998)
EINSATZGEBIETE * Schichtdickenbestimmung leitender sowie nichtleitender Schichten auf leitendem Grundmaterial. * Dickenmessung von Blechen unabhängig von auftretenden Schwankungen der Werkstoffeigenschaften und Spulenabhebungen. (Quelle: bmb+f Forschungslandkarte Deutschland 1998)
Das Einkommen leitender Angestellter wird, im Gegensatz zur Vergütung nichtleitender Mitarbeiter, nicht mehr regelmäßig jährlich im Rahmen der Tarifverhandlungen angepasst. (Quelle: Berliner Zeitung 2000)